Peter Baumann: Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen, Flexibler Einband
Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
Buch
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- Verlag:
- Springer-Verlag GmbH, 05/2023
- Einband:
- Flexibler Einband, Paperback
- ISBN-13:
- 9783658409562
- Gewicht:
- 397 g
- Maße:
- 240 x 168 mm
- Stärke:
- 13 mm
- Erscheinungstermin:
- 2.5.2023
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Preis |
|---|---|
| Buch, Kartoniert / Broschiert, Paperback | EUR 34,99* |
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Klappentext
Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperr- Schicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Im abschließenden neuen Kapitel wird die Ermittlung der Modell- Parameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert behandelt.Biografie
Peter Baumann ist Rechtsanwalt in München mit den Schwerpunkten Arbeitsrecht und Scheidungsrecht.Anmerkungen:
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