OCM 2017 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings
OCM 2017 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings
Buch
- Herausgeber: Jürgen Beyerer, Fernando Puente León, Thomas Längle
- Karlsruher Institut fr Technologie (KIT), 03/2017
- Einband: Kartoniert / Broschiert, Paperback
- Sprache: Deutsch
- ISBN-13: 9783731506126
- Bestellnummer: 6705778
- Umfang: 250 Seiten
- Gewicht: 366 g
- Maße: 210 x 148 mm
- Stärke: 15 mm
- Erscheinungstermin: 27.3.2017
Klappentext
Each material has its own specific spectral signature independent if it is food, plastics, or minerals. During the conference we will discuss new trends and developments in material characterization. You also will be informed about latest highlights to identify spectral footprints and their realizations in industry.Biografie (Fernando Puente León)
Prof. Dr.-Ing. Fernando Puente León lehrt und forscht seit 2008 am Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) des Karlsruher Instituts für Technologie (KIT). Nach Studium und Promotion arbeitete er bei der Firma DS2 im Bereich der Modem-Entwicklung. Von 2003 bis 2008 war er als Professor für Verteilte Messsysteme an der Technischen Universität München tätig. Seine Forschungsschwerpunkte liegen in der Bild- und Signalverarbeitung, der Mess- und Automatisierungstechnik, der Informationsfusion, der Mustererkennung sowie der Architektur und Analyse verteilter Systeme.Anmerkungen:
Bitte beachten Sie, dass auch wir der Preisbindung unterliegen und kurzfristige Preiserhöhungen oder -senkungen an Sie weitergeben müssen.