Jürgen Beyerer: Automatische Sichtprüfung
Automatische Sichtprüfung
Buch
- Grundlagen, Methoden und Praxis der Bildgewinnung und Bildauswertung
- Springer-Verlag GmbH, 10/2016
- Einband: Gebunden, Book
- Sprache: Deutsch
- ISBN-13: 9783662477854
- Bestellnummer: 4258719
- Sonstiges: 231 schwarz-weiße und 260 farbige Abbildungen, 260 farbige Tabellen, Bibliographie
- Nummer der Auflage: 16002
- Auflage: 2., erweiterte und verbesserte Auflage 2016
- Gewicht: 2259 g
- Maße: 246 x 177 mm
- Stärke: 56 mm
- Erscheinungstermin: 8.10.2016
Klappentext
Das Lehrbuch behandelt systematisch die Bildgewinnung für die automatische Sichtprüfung. Die Autoren leiten die wesentlichen Methoden detailliert ab und stellen alle gängigen Bildgewinnungsverfahren in einem strukturierten Zusammenhang dar.Der zweite Teil des Buches ist der Bildsignalbeschreibung und der Bildauswertung gewidmet, wobei insbesondere Methoden behandelt werden, die für die automatische Sichtprüfung relevant sind.
Die Autoren skizzieren die Herleitung der beschriebenen Methoden, ohne sich in mathematischen Details zu verlieren. Ihr Ziel ist, dass der Leser die Zusammenhänge wirklich versteht und das "große Bild" des Fachgebietes erkennt. Das Buch ist in sich geschlossen und bedarf zum Verständnis keiner ergänzenden Literatur.
Die 2. Auflage wurde gründlich überarbeitet, inhaltlich ergänzt und aktualisiert. Neue Beispiele verdeutlichen den Bezug zur Praxis.
Die Zielgruppen
Das Buch eignet sich für Studierende der Informatik, Elektro- und Informationstechnik, der Physik und des Maschinenbaus. Ebenso wendet es sich an Ingenieure in der Automatisierungstechnik.
Biografie (Fernando Puente León)
Prof. Dr.-Ing. Fernando Puente León lehrt und forscht seit 2008 am Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) des Karlsruher Instituts für Technologie (KIT). Nach Studium und Promotion arbeitete er bei der Firma DS2 im Bereich der Modem-Entwicklung. Von 2003 bis 2008 war er als Professor für Verteilte Messsysteme an der Technischen Universität München tätig. Seine Forschungsschwerpunkte liegen in der Bild- und Signalverarbeitung, der Mess- und Automatisierungstechnik, der Informationsfusion, der Mustererkennung sowie der Architektur und Analyse verteilter Systeme.Anmerkungen:
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